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跌落試驗_跌落測試通常是主要用來模擬未包裝/包裝的產品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據產品重量以及可能掉落機率做為參考標準，落下表面應該是混凝土或鋼制成的平滑、堅硬的剛性表面（如有特殊要求應以產品規(guī)格或客戶測試規(guī)范來決定）。
對于不同國際規(guī)范即使產品在相同重量下但掉落高度也不相同，對于手持型產品(如手機, MP3等)大多數掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC對于≦2kg之手持型產品建議應滿足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對手持型產品(如手機）則建議落下高度為150cm。試驗的嚴苛程度取決于跌落高度、跌落次數、跌落方向。
跌落試驗_跌落測試參考標準:
GB/T 2423.8電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
IEC60068-2-32電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗Ed:自由跌落
GB/T4857.5包裝 運輸包裝件 跌落試驗方法